Синкевич, В. Ф.; Соловйов, Володимир Миколайович
(ЦНИИ "Электроника", 1984-02)
Исследованы основные причины и механизмы отказов, определяющие надежность дискретных полупроводниковых приборов, ИС, светоизлучающих приборов. Рассмотрены методы ускоренных испытаний и прогнозировання ресурса прибора.