DSpace Repository
Физические механизмы деградации полупроводниковых приборов
Login
DSpace Home
→
Електронні публікації
→
Фізико-математичний факультет
→
Кафедра інформатики та прикладної математики
→
View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Физические механизмы деградации полупроводниковых приборов
Синкевич, В. Ф.
;
Соловйов, Володимир Миколайович
URI:
http://elibrary.kdpu.edu.ua/handle/0564/1268
https://doi.org/10.31812/0564/1268
Date:
1984-02
Abstract:
Исследованы основные причины и механизмы отказов, определяющие надежность дискретных полупроводниковых приборов, ИС, светоизлучающих приборов. Рассмотрены методы ускоренных испытаний и прогнозировання ресурса прибора.
Show full item record
Files in this item
Name:
Синкевич_Соловьев.pdf
Size:
48.87Mb
Format:
PDF
Description:
Обзор
View/
Open
This item appears in the following Collection(s)
Кафедра інформатики та прикладної математики
[1261]
Search DSpace
Search DSpace
This Collection
Advanced Search
Browse
All of DSpace
Communities & Collections
By Issue Date
Authors
Titles
Subjects
This Collection
By Issue Date
Authors
Titles
Subjects
My Account
Login
Register
Statistics
View Usage Statistics