JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
| dc.contributor.author | Синкевич, В. Ф. | |
| dc.contributor.author | Соловйов, Володимир Миколайович | |
| dc.date.accessioned | 2017-08-25T18:43:57Z | |
| dc.date.available | 2017-08-25T18:43:57Z | |
| dc.date.issued | 1984-02 | |
| dc.identifier.citation | Синкевич В. Ф. Физические механизмы деградации полупроводниковых приборов / В. Ф. Синкевич, В. Н. Соловьев // Зарубежная электронная техника : сборник обзоров. – 1984. – Вып. 2 (273), февраль. – С. 3-46. | uk |
| dc.identifier.uri | http://elibrary.kdpu.edu.ua/handle/0564/1268 | |
| dc.identifier.uri | https://doi.org/10.31812/0564/1268 | |
| dc.description.abstract | Исследованы основные причины и механизмы отказов, определяющие надежность дискретных полупроводниковых приборов, ИС, светоизлучающих приборов. Рассмотрены методы ускоренных испытаний и прогнозировання ресурса прибора. | uk |
| dc.language.iso | ru | uk |
| dc.publisher | ЦНИИ "Электроника" | uk |
| dc.subject | моделирование | uk |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | uk |
| dc.subject | надежность | uk |
| dc.subject | дефекты | uk |
| dc.title | Физические механизмы деградации полупроводниковых приборов | uk |
| dc.type | Book chapter | uk |
