Методические материалы по машинному моделированию дефектов в кристаллах

Abstract

Состав сборника: A. H.Орлов "Атомная структура двойниковых и межзеренных границ и трещин", А. Е. Кив "Машинные методы исследования актива­ционных процессов в кристаллической решетке полупроводников и диэлектриков", М. А. Эланго "Точечные дефекты в ионных крис­таллах", А. Е. Кив, В. Н. Соловьев "Искаженные структуры в алмазных решетках".