Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://elibrary.kdpu.edu.ua/xmlui/handle/0564/1268Повний запис метаданих
| Поле DC | Значення | Мова |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Синкевич, В. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Соловйов, Володимир Миколайович | - |
| dc.date.accessioned | 2017-08-25T18:43:57Z | - |
| dc.date.available | 2017-08-25T18:43:57Z | - |
| dc.date.issued | 1984-02 | - |
| dc.identifier.citation | Синкевич В. Ф. Физические механизмы деградации полупроводниковых приборов / В. Ф. Синкевич, В. Н. Соловьев // Зарубежная электронная техника : сборник обзоров. – 1984. – Вып. 2 (273), февраль. – С. 3-46. | uk |
| dc.identifier.uri | http://elibrary.kdpu.edu.ua/handle/0564/1268 | - |
| dc.identifier.uri | https://doi.org/10.31812/0564/1268 | - |
| dc.description.abstract | Исследованы основные причины и механизмы отказов, определяющие надежность дискретных полупроводниковых приборов, ИС, светоизлучающих приборов. Рассмотрены методы ускоренных испытаний и прогнозировання ресурса прибора. | uk |
| dc.language.iso | ru | uk |
| dc.publisher | ЦНИИ "Электроника" | uk |
| dc.subject | моделирование | uk |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | uk |
| dc.subject | надежность | uk |
| dc.subject | дефекты | uk |
| dc.title | Физические механизмы деградации полупроводниковых приборов | uk |
| dc.type | Book chapter | uk |
| Розташовується у зібраннях: | Кафедра інформатики та прикладної математики | |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Синкевич_Соловьев.pdf | Обзор | 50.05 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.