Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://elibrary.kdpu.edu.ua/xmlui/handle/0564/1268| Назва: | Физические механизмы деградации полупроводниковых приборов |
| Автори: | Синкевич, В. Ф. Соловйов, Володимир Миколайович |
| Ключові слова: | моделирование полупроводниковые приборы надежность дефекты |
| Дата публікації: | лют-1984 |
| Видавництво: | ЦНИИ "Электроника" |
| Бібліографічний опис: | Синкевич В. Ф. Физические механизмы деградации полупроводниковых приборов / В. Ф. Синкевич, В. Н. Соловьев // Зарубежная электронная техника : сборник обзоров. – 1984. – Вып. 2 (273), февраль. – С. 3-46. |
| Короткий огляд (реферат): | Исследованы основные причины и механизмы отказов, определяющие надежность дискретных полупроводниковых приборов, ИС, светоизлучающих приборов. Рассмотрены методы ускоренных испытаний и прогнозировання ресурса прибора. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://elibrary.kdpu.edu.ua/handle/0564/1268 https://doi.org/10.31812/0564/1268 |
| Розташовується у зібраннях: | Кафедра інформатики та прикладної математики |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Синкевич_Соловьев.pdf | Обзор | 50.05 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.