Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elibrary.kdpu.edu.ua/handle/0564/1264
Назва: Методы адекватного моделирования микромеханизмов естественного старения полупроводниковых приборов
Автори: Горин, Б. М.
Кив, А. Е.
Лихман, А. В.
Плотникова, Л. Г.
Соловьев, Владимир Николаевич
Шейнкман, М. К.
Ключові слова: старение
полупроводниковые тран­зисторы
моделирование
Дата публікації: 1982
Видавництво: ЦНИИ "Электроника"
Бібліографічний опис: Горин Б. М. Методы адекватного моделирования микромеханизмов естественного старения полупроводниковых приборов / Б. М. Горин, А. Е. Кив, А. В. Лихман, Л. Г. Плотникова, В. Н. Соловьев, М. К. Шейнкман // Электронная техника. Серия 2. Полупроводниковые приборы. – 1982. – Вып. 5 (156). – С. 71-74.
Короткий огляд (реферат): Развита концепция естественного старения полупроводниковых тран­зисторов, основанная на учете электрон-решеточных взаимодейст­вий, вызванных электронными воз­буждениями в нормально функциони­рующем приборе. Анализирован спектр возможных электронных возбуждений и рассмотрены механизмы, приводя­щие к старению двух типов: макро­скопическое размытие примесных профилей и микроскопическая пере­стройка дефектно-примесных ком­плексов. Указаны возможности вы­явления истинных механизмов ста­рения. Предложены методы машинно­го и экспериментального моделиро­вания естественного старения.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://elibrary.kdpu.edu.ua/handle/0564/1264
Розташовується у зібраннях:Кафедра інформатики та прикладної математики



Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.