Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://elibrary.kdpu.edu.ua/xmlui/handle/0564/1264| Назва: | Методы адекватного моделирования микромеханизмов естественного старения полупроводниковых приборов |
| Автори: | Горин, Б. М. Ків, Арнольд Юхимович Лихман, А. В. Плотникова, Л. Г. Соловйов, Володимир Миколайович Шейнкман, М. К. |
| Ключові слова: | старение полупроводниковые транзисторы моделирование |
| Дата публікації: | 1982 |
| Видавництво: | ЦНИИ "Электроника" |
| Бібліографічний опис: | Горин Б. М. Методы адекватного моделирования микромеханизмов естественного старения полупроводниковых приборов / Б. М. Горин, А. Е. Кив, А. В. Лихман, Л. Г. Плотникова, В. Н. Соловьев, М. К. Шейнкман // Электронная техника. Серия 2. Полупроводниковые приборы. – 1982. – Вып. 5 (156). – С. 71-74. |
| Короткий огляд (реферат): | Развита концепция естественного старения полупроводниковых транзисторов, основанная на учете электрон-решеточных взаимодействий, вызванных электронными возбуждениями в нормально функционирующем приборе. Анализирован спектр возможных электронных возбуждений и рассмотрены механизмы, приводящие к старению двух типов: макроскопическое размытие примесных профилей и микроскопическая перестройка дефектно-примесных комплексов. Указаны возможности выявления истинных механизмов старения. Предложены методы машинного и экспериментального моделирования естественного старения. |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://elibrary.kdpu.edu.ua/handle/0564/1264 |
| Розташовується у зібраннях: | Кафедра інформатики та прикладної математики |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Методы адекватного моделирования микромеханизмов естественного старения полупроводниковых приборов.pdf | Статья | 8.58 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.