Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elibrary.kdpu.edu.ua/xmlui/handle/0564/1268
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorСинкевич, В. Ф.-
dc.contributor.authorСоловйов, Володимир Миколайович-
dc.date.accessioned2017-08-25T18:43:57Z-
dc.date.available2017-08-25T18:43:57Z-
dc.date.issued1984-02-
dc.identifier.citationСинкевич В. Ф. Физические механизмы деградации полупроводниковых приборов / В. Ф. Синкевич, В. Н. Соловьев // Зарубежная электронная техника : сборник обзоров. – 1984. – Вып. 2 (273), февраль. – С. 3-46.uk
dc.identifier.urihttp://elibrary.kdpu.edu.ua/handle/0564/1268-
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.31812/0564/1268-
dc.description.abstractИсследованы основные причины и механизмы отказов, определяющие надежность дискретных полупровод­никовых приборов, ИС, светоизлучающих приборов. Рассмотрены методы ускоренных испытаний и прогнозировання ресурса прибора.uk
dc.language.isoruuk
dc.publisherЦНИИ "Электроника"uk
dc.subjectмоделированиеuk
dc.subjectполупроводниковые приборыuk
dc.subjectнадежностьuk
dc.subjectдефектыuk
dc.titleФизические механизмы деградации полупроводниковых приборовuk
dc.typeBook chapteruk
Розташовується у зібраннях:Кафедра інформатики та прикладної математики

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Синкевич_Соловьев.pdfОбзор50.05 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.