Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elibrary.kdpu.edu.ua/handle/0564/1268
Назва: Физические механизмы деградации полупроводниковых приборов
Автори: Синкевич, В. Ф.
Соловьев, Владимир Николаевич
Ключові слова: моделирование
полупроводниковые приборы
надежность
дефекты
Дата публікації: лют-1984
Видавництво: ЦНИИ "Электроника"
Бібліографічний опис: Синкевич В. Ф. Физические механизмы деградации полупроводниковых приборов / В. Ф. Синкевич, В. Н. Соловьев // Зарубежная электронная техника : сборник обзоров. – 1984. – Вып. 2 (273), февраль. – С. 3-46.
Короткий огляд (реферат): Исследованы основные причины и механизмы отказов, определяющие надежность дискретных полупровод­никовых приборов, ИС, светоизлучающих приборов. Рассмотрены методы ускоренных испытаний и прогнозировання ресурса прибора.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://elibrary.kdpu.edu.ua/handle/0564/1268
Розташовується у зібраннях:Кафедра інформатики та прикладної математики

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Синкевич_Соловьев.pdfОбзор50,05 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.