Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elibrary.kdpu.edu.ua/xmlui/handle/0564/1021
Назва: Radiation-stimulated processes in Si surface layers
Автори: Jacobs, Patrick W. M.
Ків, Арнольд Юхимович
Соловйов, Володимир Миколайович
Maximova, Tatyana N.
Chislov, Valery V.
Ключові слова: Si surface
molecular dynamics
relaxation processes
radiation effects
Дата публікації: 1999
Видавництво: SPIE
Бібліографічний опис: Jacobs P. W. M. Radiation-stimulated processes in Si surface layers / Patrick W. M. Jacobs, Arnold E. Kiv, Vladimir N. Soloviev, Tatyana N. Maximova, Valery V. Chislov // SPIE Proceedings [SPIE International Workshop on Nondestructive Testing and Computer Simulations in Science and Engineering - St. Petersburg, Russia (Monday 8 June 1998)] International Workshop on Nondestructive Testing and Computer Simulations in Science and Engineering NDTCS-98. – 1999. – Vol. 3687. – Pp. 170-174.
Короткий огляд (реферат): Molecular dynamics computer simulations have been perfonned to study the character of disordering of atom configurations in Si surface layers. The relaxation of free Si surface was investigated. The main structural parameters were calculated, such as a distribution of angles between chemical bonds, the density of dangling bonds, structural peculiarities of Si surface layers and radiation effects. It was concluded that Si surface at real conditions is a disordered phase similar to a-Si [1].
Опис: [1] Chadi D.J. (1979) Dimer configurations at Si surface. Phys. Rev. Lett. 43, 43 [2] Zhu Z., Shima N., Tsukada V. (1989) New types of dimers in Si. Phys. Rev. B 40,11868 [3] Dabrovski J., Scheffler V. (1992) Transitions between dimer configurations in Si. Appl. Surf. Sci. 56 -58, 15 [4] Alien M.P., Tildesley D.J. (1987) Computer simulations in liquids. Oxford University Press, Oxford [5] Keating P.N. (1966) Interatomic potential in Si. Phys. Rev. 145, 637 [6] Stillinger F.H., Weber T.A. (1985) New interatomic potential for Si. Phys. Rev. B 31, 52-62 [7] Blochi P.E., Smargiassi E., Car R., Laks D.B., S.T. (1993) Pantelides ab initio calculations of Si electronic structure. Phys. Rev. Lett. 70, 2435 [8] Jacobs P.W., Kiv A.E., Balabay R.M. et al. (1998) RAU Sci. Rep. Computer modelling & New Technologies 2, 15-20 [9] Kiv A.E., Kovalchuk V.V., Yanchuk V.A. (1989) H adsorption by disordered Si clusters. Phys. Stat. Sol.(b) 156, K101-K104 [10] Britavskaya E.P., Chislov V.V., Kiv A.E. et al. (1995) Surface disordered phase in semiconductors. Ukr. Phys. J. 40, 698-701
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://elibrary.kdpu.edu.ua/handle/0564/1021
https://doi.org/10.1117/12.347417
ISSN: 0277-786X
Розташовується у зібраннях:Кафедра інформатики та прикладної математики

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Jacobs_Kiv_Soloviev_Maximova_Chislov.pdfArticle273.34 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.